Micro Pioneer XRF-2000

Giới thiệu sản phẩm:

Phát hiện lớp mạ điện tử, độ dày lớp mạ hóa học, chẳng hạn như lớp mạ vàng, lớp mạ niken, lớp mạ đồng, lớp mạ crom, lớp kẽm niken, lớp mạ bạc, lớp mạ palladium.
Có thể đo lớp phủ hợp kim một lớp, hai lớp, nhiều lớp, nhiều lớp.
Phạm vi đo: 0,04-35um
Độ chính xác của phép đo là + 5%, và thời gian đo chỉ mất 30 giây để biết chính xác độ dày của lớp phủ.
Mesa hoàn toàn tự động, hoạt động rất thuận tiện và đơn giản.